[发明专利]一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置

摘要

本发明公开了一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置，其特征在于：包括依次连接的光源模块、隔离器、耦合器、光电探测模块和信号处理模块，以及与耦合器连接的磁感应模块；所述磁感应模块，是由光纤、以等间距均匀布置在光纤上的光栅、粘贴于光栅上的磁致伸缩薄膜、装充在磁致伸缩薄膜所封闭的光栅间隔中的光纤匹配液，以及贴在磁致伸缩薄膜外表面的保护层所组成。本发明具有不受电磁干扰、测量精度高、结构简单、成本较低、使用方便等突出优点。

主权项

1.一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置，其特征在于：包括依次连接的光源模块、隔离器、耦合器、光电探测模块和信号处理模块，以及与耦合器连接的磁感应模块；所述磁感应模块包括光纤、以等间距均匀布置在光纤上的光栅、粘贴于光栅上的磁致伸缩薄膜、装充在磁致伸缩薄膜所封闭的光栅间隔中的光纤匹配液，以及贴在磁致伸缩薄膜外表面的保护层；所述磁致伸缩薄膜为树脂基超磁致伸缩薄膜；所述树脂基超磁致伸缩薄膜的制备方法包括以下几个步骤：步骤一：制备树脂基超磁致伸缩材料；步骤二：用金相砂纸将树脂基超磁致伸缩材料块表面打磨光亮，除去氧化层，然后分别用蒸馏水、丙酮和无水乙醇清洗、晾干；步骤三：将步骤而制备的样品固定在溅射板上，抽真空，充入Ar气，溅射清洗样品；步骤四：将样品放入瓷方舟中，再把瓷方舟放入高真空热处理炉中，进行加热4小时后取出，冷却，制得树脂基超磁致伸缩薄膜。