[发明专利]在片散射参数的溯源及不确定度评估方法有效
| 申请号： | 201610763762.6 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106405462B | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 栾鹏;王一帮;吴爱华;梁法国;孙静;刘晨;孙晓颖;韩志国;丁立强;张立飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 申超平 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在片散射参数的溯源及不确定度评估方法，涉及散射参数校准技术领域。该方法包括：建立多线TRL校准算法模型，根据所述TRL校准算法确定采集测量的误差来源；测量多线TRL校准件的几何量及未修正的散射参数，并进行误差项采集；通过测量传输线单位长度线电容的方法，得到所述多线TRL校准件传输线的特征阻抗，再通过阻抗变换实现归一化到50Ω特征阻抗的散射参数校准；测量被测件未修正的散射参数，进行误差项修正得到归一化到50Ω的被测件的散射参数，根据MCM蒙特卡洛器件仿真测试方法对多线TRL校准的散射参数进行不确定度评估。上述方法能够清晰给出不确定度的来源，提高评估的不确定度评估的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 参数 溯源 不确定 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在片散射参数的溯源及不确定度评估方法，其特征在于，通过多线TRL校准件完成，包括以下步骤：1)建立多线TRL校准算法模型，根据所述TRL校准算法确定采集测量的误差来源；2)测量多线TRL校准件的几何量及未修正的散射参数，并进行误差项采集；3)通过测量传输线单位长度线电容的方法，得到所述多线TRL校准件传输线的特征阻抗，再通过阻抗变换实现归一化到50Ω特征阻抗的散射参数校准；4)测量被测件未修正的散射参数，进行误差项修正得到归一化到50Ω的被测件的散射参数，根据MCM蒙特卡洛器件仿真测试方法对多线TRL校准的散射参数进行不确定度评估。
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