[发明专利]在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法有效
| 申请号： | 201610763763.0 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106249187B | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 栾鹏;王一帮;吴爱华;梁法国;孙静;刘晨;孙晓颖;韩志国;张立飞;丁立强 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 申超平 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法，涉及散射参数校准技术领域。该方法包括：根据算法分析及工艺加工能力设定多线TRL校准件传输线在目标频带下的几何尺寸及个数，并制作多线TRL校准件；测量多线TRL校准件的几何量；通过测量多线TRL校准件传输线的线电容，并结合传播常数得到多线TRL校准件传输线的特征阻抗。上述在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法给出了传输线长度、导体厚度的选取准则，实现多线TRL校准件的准确定义，且经验证多线TRL校准件设计合理，准确度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 片共面 波导 trl 校准 设计 准确 定义 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在片共面波导多线TRL校准件的设计与准确定义方法，其特征在于，包括以下步骤：1)根据算法分析及工艺加工能力设计多线TRL校准件传输线在目标频带下的几何尺寸及个数，并制作多线TRL校准件；2)测量所述多线TRL校准件的几何量；3)通过测量所述多线TRL校准件传输线的线电容，并结合传播常数得到所述多线TRL校准件传输线的特征阻抗。
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