[发明专利]包括钳位结构的半导体器件有效

专利信息
申请号: 201610765091.7 申请日: 2016-07-15
公开(公告)号: CN106356369B 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: R·巴布尔斯克;T·巴斯勒;T·基默;H-J·舒尔策;S·福斯 申请(专利权)人: 英飞凌科技奥地利有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;杜荔南
地址: 奥地利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及包括钳位结构的半导体器件。在半导体器件的实施例中,半导体本体(101)包括钳位结构(102),其包括在第一接触部(C11,C12)和第二接触部(C21,C22)之间背对背串联连接的pn结二极管(103)和肖特基结二极管(104)。pn结二极管(103)的击穿电压(Vbrpn)大于100V并且肖特基结二极管(104)的击穿电压(Vbrs)大于10V。
搜索关键词: 包括 结构 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件,包括:半导体本体(101),包括钳位结构(102),所述钳位结构(102)包括在第一接触部(C11,C12)和第二接触部(C21,C22)之间背对背串联连接的pn结二极管(103)和肖特基结二极管(104),其中所述pn结二极管(103)的击穿电压(Vbrpn)大于100V并且所述肖特基结二极管(104)的击穿电压(Vbrs)大于10V。
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