[发明专利]硅微陀螺机电结合带通sigma‑delta闭环检测环路参数获取方法

摘要

本发明公开了一种关于硅微陀螺机电结合带通sigma‑delta闭环检测环路参数获取方法，针对于硅微陀螺机电结合带通sigma‑delta闭环检测环路，其环路结构难以设计，环路参数难以获取，本发明设计了一种方便，简单的环路设计和参数获取方法。该方法包括以下内容陀螺仪的sigma‑delta闭环检测电路的建模；针对陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测电路的结构设计；针对陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测电路的参数获取；离散时间SDM到机电结合SDM的转换；参数的调整。本发明利用了DSToolbox工具箱来设计硅微陀螺机电结合带通sigma‑delta闭环检测环路，可以保证整个系统稳定性以及达到较高的信噪比。

主权项

一种硅微陀螺机电结合带通sigma‑delta闭环检测环路参数获取方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、建立陀螺的sigma‑delta闭环检测环路模型；步骤2、针对陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测环路模型，对陀螺的二阶系统进行离散化，之后结合离散时间sigma‑delta调制器的设计工具DSToolbox，选择陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测环路的结构；步骤3、结合离散时间sigma‑delta调制器的设计工具DSToolbox，获取陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测环路的参数，该参数包括陀螺的离散时间sigma‑delta闭环检测环路的反馈系数和前馈系数；步骤4、将离散时间sigma‑delta闭环检测环路转换到机电结合sigma‑delta闭环检测环路；步骤5、结合实际的电路和反馈实现结构以及实际机械参数对环路中的参数进行调整。