[发明专利]基于单端口校准探针去嵌的片上天线增益测试方法及系统在审
| 申请号： | 201610767631.5 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106291132A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 赵锐;王亚海;杜刘革;常庆功;胡大海 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了基于单端口校准探针去嵌的片上天线增益测试方法，包括，步骤1：发射端连接标准天线，接收端连接接收天线；步骤2：采集标准天线接收的辐射信号，并存储；步骤3：拆掉标准天线，并在矢量网络分析仪和标准天线之间的端口(矢量网络分析仪端)做单端口校准，之后在该端口连接探针并在探针端口做单端口校准；步骤4：对被测片上天线进行馈电，采集片上天线辐射出的信号，并存储；步骤5：利用所述步骤2和步骤4存储的标准天线和片上天线采集的信号得到片上天线的增益数据。可有效解决由于探针多次使用造成探针插损变化的问题，精确测出探针的实际插损值，进而提高被测片上天线的增益测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 端口 校准 探针 天线 增益 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
基于单端口校准探针去嵌的片上天线增益测试方法，其特征是，包括，步骤1：发射端连接已知增益的标准天线，接收端连接接收天线；步骤2：采集标准天线接收的辐射信号，并存储；步骤3：拆掉标准天线，并在矢量网络分析仪和标准天线之间的矢量网络分析仪端口做单端口校准，之后在该端口连接探针并在探针端口做单端口校准；步骤4：对被测片上天线进行馈电，采集片上天线辐射出的信号，并存储；步骤5：利用所述步骤2和步骤4存储的标准天线和片上天线采集的信号得到片上天线的增益数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所，未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610767631.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
