[发明专利]一种调试板、调试系统及调试方法在审
| 申请号： | 201610772727.0 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106445751A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 刘波;闫凤娟;熊燕萍;周清 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 李红爽;栗若木 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种调试板、调试系统及调试方法，所述调试板包括：控制单元、SPI接口、IIC接口以及通信接口，其中，SPI接口和IIC接口分别用于连接待测设备的相应接口，控制单元用于将来自控制设备发送的测试指令数据转发到SPI接口或IIC接口，以及将来自待测设备的SPI接口或IIC接口的数据转发给控制设备，通信接口用于连接控制设备。所述调试系统包括上述调试板和控制设备，所述调试板的通信接口用于连接控制设备的第一通信接口，待测设备的通信接口连接到控制设备的第二通信接口；所述调试方法适用于该调试系统，包括手动调试模式和自动测试模式。本发明可以适应不同设备的SPI和IIC协议配置的调试需求，配置灵活，可以减少底层驱动的开发时间，操作简单方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种调试板，其特征在于，包括：控制单元、SPI接口、IIC接口以及通信接口；所述SPI接口和IIC接口分别用于连接待测设备的相应接口；所述控制单元用于将来自控制设备发送的测试指令数据转发到所述SPI接口或IIC接口，以及将来自所述待测设备的SPI接口或IIC接口的数据转发给所述控制设备；所述通信接口，用于连接所述控制设备。
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