[发明专利]显微镜附接件及结合显微镜附接件进行样本分析的方法有效

专利信息
申请号: 201610772916.8 申请日: 2016-08-30
公开(公告)号: CN106842536B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 范纯圣 申请(专利权)人: 豪威科技股份有限公司
主分类号: G02B21/36 分类号: G02B21/36;G01N21/84
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 齐杨
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及显微镜附接件及结合所述显微镜附接件进行样本分析的方法。显微镜附接件包含具有一或多个透镜的透镜设备、光源及样本托架。所述样本托架安置于所述透镜设备与所述光源之间,且经定位以使来自所述光源的光透射通过所述样本托架及所述透镜设备。所述透镜设备经安置以放大所述样本托架中的光学区域。附接机构经安置以将所述显微镜附接件连接到个人电子装置。
搜索关键词: 显微镜 附接件 结合 进行 样本 分析 方法
【主权项】:
一种显微镜附接件,其包括:透镜设备,其包含一或多个透镜;光源;样本托架,其安置于所述透镜设备与所述光源之间,其中所述样本托架经安置以使来自所述光源的光透射通过所述样本托架及所述透镜设备,且其中所述透镜设备经安置以放大所述样本托架中的光学区域;及附接机构,其经安置以将所述显微镜附接件连接到个人电子装置。
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