[发明专利]一种激光测距机光轴调试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201610775181.4 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106443954A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 席文强;王寿增;郭良贤;高彦伟;余龙;林承飞;孙峰 申请(专利权)人: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
主分类号: G02B7/18 分类号: G02B7/18;G02B7/00
代理公司: 武汉凌达知识产权事务所(特殊普通合伙)42221 代理人: 刘念涛;宋国荣
地址: 430223 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种激光测距机光轴调试系统,包括激光器、照明光源和带CCD镜头的CCD相机,所述的激光器上连接有发射光学系统,所述的CCD相机和激光器之间连接有计算机,所述的发射光学系统上连接有接收光学系统,所述的接收光学系统后方连接有探测器组件,所述的接收光学系统前方依次设有衰减片、直角棱镜和角锥棱镜;还公开了其调试方法;本发明可以实时监视探测器组件靶面的清晰度,通过调节装置将探测器组件前后位置调试到最佳,将激光器光斑直接照射到探测器组件靶面进行光轴调试,直观、效率高。
搜索关键词: 一种 激光 测距 光轴 调试 系统 方法
【主权项】:
一种激光测距机光轴调试系统,其特征在于:包括激光器(3)、照明光源(11)和带CCD镜头(14)的CCD相机(13),所述的激光器(3)上连接有发射光学系统(2),所述的CCD相机(13)和激光器(3)之间连接有计算机(12),所述的发射光学系统(2)上连接有接收光学系统(8),所述的接收光学系统(8)后方连接有探测器组件(4),所述的接收光学系统(8)前方依次设有衰减片(9)、直角棱镜(10)和角锥棱镜(1)。
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