[发明专利]测试腔结构、鞘流器、粒子分析仪和测试腔加工方法有效

专利信息
申请号: 201610777169.7 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106198357B 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 唐雪辉;陆利芬;农柳华 申请(专利权)人: 桂林优利特医疗电子有限公司
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 艾春慧
地址: 541004 广西壮族自*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明涉及粒子分析设备技术领域,特别涉及一种测试腔结构、鞘流器、粒子分析仪和测试腔加工方法。本发明所提供的测试腔结构,包括基体和盖板,基体上形成有横截面为方形的凹槽,凹槽的顶面敞开且与基体的顶面平齐,盖板粘结于基体的顶面以封闭凹槽的顶面形成允许粒子在鞘液的带动下从中通过的测试腔,粒子通过测试腔时能够被计数和/或分类。由于凹槽的顶面与基体的顶面平齐,因此,在粘结盖板与基体顶面的过程中,需要粘结的部位相对较少,对盖板与基体相对位置的要求也相对较低,因此,可以有效简化加工工艺,降低加工难度,减少加工成本。
搜索关键词: 测试 结构 鞘流器 粒子 分析 加工 方法
【主权项】:
1.一种测试腔结构(1),用于粒子分析仪的鞘流器,其特征在于,包括基体(11)和盖板(12),所述基体(11)上形成有横截面为方形的凹槽,所述凹槽的顶面敞开且与所述基体(11)的顶面平齐,所述盖板(12)粘结于所述基体(11)的顶面以封闭所述凹槽的顶面形成允许粒子在鞘液的带动下从中通过的测试腔(13),粒子通过所述测试腔(13)时能够被计数和/或分类,所述基体(11)包括由左至右板面依次粘结的第三基板(113)、第四基板(114)和第五基板(115),所述第三基板(113)、所述第四基板(114)和所述第五基板(115)的底面平齐,所述第三基板(113)与所述第五基板(115)高度相等且大于所述第四基板(114)的高度,所述第四基板(114)的顶面以及所述第三基板(113)和所述第五基板(115)彼此相对的板面围成横截面为方形且顶面敞开的所述凹槽。
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