[发明专利]一种液晶面板及其测试方法在审
| 申请号： | 201610784204.8 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106200178A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 熊源 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种液晶面板及其测试方法。所述液晶面板包括：显示像素阵列，其配置为在开关信号、数据信号以及像素信号的驱动下进行图像显示，实现正常的显示功能；测试用像素阵列，其包含多个测试用像素，所述测试用像素配置为使用与所述显示像素阵列中像素相同的驱动信号以及相同的像素设计；测试电极，其通过走线与所述测试用像素阵列联通，配置为向所述测试用像素阵列输出测试信号和/或读取所述测试用像素阵列的信号以监测所述测试用像素阵列内像素的情况。根据本发明的液晶面板及其测试方法，可以在液晶面板完成后，利用外部的测试电极完成对面板内像素的运行状态的监测，从而为面板设计和驱动电压序列的确定提供有效数据支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶面板 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶面板，其特征在于，所述液晶面板包括：显示像素阵列，其配置为在开关信号、数据信号以及像素信号的驱动下进行图像显示，实现正常的显示功能；测试用像素阵列，其包含多个测试用像素，所述测试用像素配置为使用与所述显示像素阵列中像素相同的驱动信号以及相同的像素设计；测试电极，其通过走线与所述测试用像素阵列联通，配置为向所述测试用像素阵列输出测试信号和/或读取所述测试用像素阵列的信号以监测所述测试用像素阵列内像素的情况。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司，未经深圳市华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610784204.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
