[发明专利]一种OR-ing MOSFET故障在线检测的方法及系统

摘要

本发明公开了一种OR‑ing MOSFET故障在线检测的方法及系统，该方法包括：将OR‑ing MOSFET栅极驱动关闭，检测VD‑S；将VD‑S与预设故障门限电压比较，判断是否有外部中断，如果是，则触发定时器开始计时，否则，MCU本地故障报警，上报OR‑ing MOSFET失效，同时OR‑ing MOSFET驱动开启；OR‑ing MOSFET驱动关闭持续时间到时后，栅极驱动重新开启，VD‑S小于100mV，电平翻转，触发MCU外部中断，定时器结束计时；判断定时器的计数时间是否大于OR‑ing MOSFET驱动关闭持续时间的一半，若是，MCU本地正常显示，上报OR‑ing MOSFET正常，否则进行新一轮的检测。本发明减小了维护人员的工作量、减小了OR‑ing MOSFET故障给电源系统的运行安全带来的隐患，提高了电源系统运行的安全性和可靠性以及电源系统的维护效率，大大降低了维护成本。

主权项

1.一种OR‑ing MOSFET故障在线检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、OR‑ing MOSFET正常运行过程中，MCU下发指令将OR‑ing MOSFET的栅极驱动关闭，并检测OR‑ing MOSFET的VD‑S两端电压；S2、将检测到的VD‑S两端电压与预设的故障门限电压进行比较，判断是否有外部中断产生，如果是，转S3；否则，转S7；S3、触发中断定时器，中断定时器开始计时；S4、OR‑ing MOSFET驱动关闭持续时间到达预设时间后，OR‑ing MOSFET的栅极驱动重新开启，将VD‑S两端电压与故障门限电压比较后，电平翻转，触发MCU的外部中断，中断定时器结束计时；S5、判断中断定时器的计数时间是否大于OR‑ing MOSFET驱动关闭持续时间的一半，若是，转S6；否则，转S1；S6、MCU本地正常显示，上报OR‑ing MOSFET正常，转S8；S7、MCU本地故障报警，上报OR‑ing MOSFET失效，同时OR‑ing MOSFET驱动开启；S8、结束。