[发明专利]一种基于微波水分仪的产品霉变检测系统和检测方法有效
申请号: | 201610786737.X | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106442574B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 朱良龙;薛庆逾;石超 | 申请(专利权)人: | 上海创和亿电子科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N22/04 | 分类号: | G01N22/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 高燕;许亦琳 |
地址: | 201808 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于微波水分仪的产品霉变检测系统,所述检测系统包括:微波信号特征获取单元,用于根据微波水分仪测试获得的微波信号获取微波信号特征;待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离计算单元,与微波信号特征获取单元相连接,用于基于待识别产品和霉变样本的微波信号特征计算待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离;待识别产品与非霉变样本之间的广义平方距离计算单元。采用本发明中检测系统及方法能够快速有效的识别产品是否霉变,不仅节省人力物力而且高效快速,适合大规模工业化生产中使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 微波 水分 产品 霉变 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于微波水分仪的产品霉变检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:微波信号特征获取单元,用于根据微波水分仪测试获得的微波信号获取微波信号特征;待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离计算单元,与微波信号特征获取单元相连接,用于基于待识别产品和霉变样本的微波信号特征计算待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离;待识别产品与非霉变样本之间的广义平方距离计算单元,与微波信号特征获取单元相连接,用于基于待识别产品和非霉变样本的微波信号特征计算待识别产品与非霉变样本之间的广义平方距离;霉变识别单元,与待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离计算单元和待识别产品与非霉变样本之间的广义平方距离计算单元相连接,用于根据待识别产品的微波信号及两个广义平方距离确定待识别产品是否霉变;待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离为:其中,G1(E)是指待识别产品与霉变样本之间的广义平方距离;E为待识别产品经微波水分仪测试获得的微波信号的特征值,E由微波信号的平均值EAVG、微波信号的标准偏差ESTD、微波信号的峰度EKURT构成的三维列向量;每个待识别产品中取n个微波信号数据值,则i=1,2,3,…,n;Xi为第i个微波信号数据值;为待测产品的霉变样本经微波水分仪测试获得的微波信号的特征值的平均值,即为由待测产品的霉变样本由微波信号的平均值微波信号的标准偏差的平均值微波信号的峰度的平均值构成的三维向量矩阵;取k个霉变样本,每个霉变样本中有n个微波信号数据值,则i=1,2,3,…,n;j=1,2,3,…,k;Xi,j为第j个霉变样本的第i个微波信号数据值;S1为霉变样本的信号特征值的协方差矩阵,|S1|为协方差矩阵的行列式值,表示的转秩,S1‑1表示S1的逆。
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