[发明专利]一种逆导型IGBT有效
申请号: | 201610786770.2 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106206679B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 罗小蓉;邓高强;周坤;刘庆;黄琳华;孙涛;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/739 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于功率半导体器件技术领域,涉及一种逆导型IGBT。本发明的逆导型IGBT,其技术方案是:在N型高阻半导体材料表面形成P型区,所述P型区表面并列交替形成N型发射区和P型体接触区。在N型发射区中部形成贯穿P型区且底部与N型高阻半导体相接触的介质槽,由介质槽中的导电材料引出栅电极,形成槽栅结构;所述N型发射区和P型体接触区的共同引出端为发射极电极。在N型高阻半导体材料的背面,由连续交替变换的N型区和P型区形成集电区,所述N型和P型区的共同引出端为集电极。所述集电区的顶部引入电场截止区,电场截止区与集电区之间在器件纵向方向上有距离,电场截止区由沿器件横向方向连续交替变换的重掺杂N型区和轻掺杂P型区组成。 | ||
搜索关键词: | 一种 逆导型 igbt | ||
【主权项】:
1.一种逆导型IGBT,在N型高阻半导体材料表面形成P型区(1),所述P型区表面沿器件横向方向并列交替形成N型发射区(3)和P型体接触区(4);在N型发射区(3)中部具有贯穿P型区(1)且底部与N型高阻半导体相接触的介质槽(2),介质槽中具有位于槽内壁的绝缘介质层(21)和由绝缘介质层(21)包围的导电材料(22),由介质槽中的导电材料(22)引出栅电极,形成槽栅结构;所述N型发射区(3)和P型体接触区(4)的共同引出端为发射极电极;在N型高阻半导体材料的背面,沿器件横向方向由连续交替变换的N型区(51)和P型区(52)形成集电区,所述N型区(51)和P型区(52)的共同引出端为集电极;所述集电区的正上方具有电场截止区(6),电场截止区(6)与集电区之间在器件纵向方向上有距离,电场截止区(6)由沿器件横向方向连续交替变换的重掺杂N型区和轻掺杂P型区组成;所述重掺杂N型区用于保证正向阻断时的电场截止作用,轻掺杂P型区则充当电子势垒,使器件在正向导通初期电子电流流经电场截止区(6)下方的高阻路径,增大分布电阻;所述器件横向方向和器件纵向方向位于同一水平面且相互垂直。
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