[发明专利]一种交流发光芯片通断测试方法和装置在审
| 申请号： | 201610790819.1 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106249132A | 公开（公告）日： | 2016-12-21 |
| 发明（设计）人： | 李克坚;桑钧晟 | 申请（专利权）人： | 中山昂欣科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中山市高端专利代理事务所(特殊普通合伙)44346 | 代理人： | 袁媛 |
| 地址： | 528400 广东省中山市翠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种交流发光芯片通断测试方法和装置，其特征在于:其包括底座、压板及扣合机构，底座或压板内可设置交流发光芯片测试电路；所述底座上表面设有可放置被测发光芯片的测试平台；所述压板与测试平台相对的表面设有若干顶针，所述顶针与交流发光芯片测试电路电联接；在底座上设有扣合机构，通过该扣合机构可将扣合在测试平台上的压板压紧；底座上还设有控制测试电路的控制开关；采用本发明可方便、安全、高效地检测出发光芯片的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 交流 发光 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种交流发光芯片通断测试方法和装置，其特征在于:其包括底座、压板及扣合机构，底座或压板内可设置交流发光芯片测试电路；所述底座上表面设有可放置被测发光芯片的测试平台；所述压板与测试平台相对的表面设有若干顶针，所述顶针与交流发光芯片测试电路电联接；在底座上设有扣合机构，通过该扣合机构可将扣合在测试平台上的压板压紧；底座上还设有控制测试电路的控制开关。
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