[发明专利]微区反射率测试系统及其测试方法有效
申请号: | 201610790918.X | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106353282B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 向勇;王维;苏阳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙) 51238 | 代理人: | 黎祖琴 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种微区反射率测试系统及基于此系统的测试方法,微区反射率测试系统用于检测微区样品的反射率,其包括光处理模块、标定模块、控制模块及积分球,所述光处理模块提供入射光以对微区样品进行加热处理,所述标定模块检测微区样品产生的反射光是否存在以标定所述反射光的角度及其范围,控制模块根据标定的反射光的角度及其范围确定积分球的开口大小及其位置,所述积分球检测所述微区样品上发出的反射光的功率得到反射率。所述微区反射率测试系统可准确确定需要设置积分球的开口大小及位置,从而可以快速检测并采集需要热处理的微区样品的反射光的反射功率,且操作简便快捷。 | ||
搜索关键词: | 反射率 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种微区反射率测试系统,用于检测微区样品的反射率,其特征在于:其包括光处理模块、标定模块、控制模块及积分球,所述光处理模块提供入射光以对微区样品进行加热处理,所述标定模块检测微区样品产生的反射光是否存在以标定所述反射光的角度及其范围,控制模块根据标定的反射光的角度及其范围确定积分球的开口大小及其位置,所述积分球检测所述微区样品上发出的反射光的功率得到反射率。
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