[发明专利]一种基于柱形电场分析器的磁偏转质谱计有效
| 申请号： | 201610796304.2 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106404882B | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 董猛;李得天;成永军;习振华;张虎忠;李艳武;王永军;吉康 | 申请（专利权）人： | 兰州空间技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 杨志兵;李爱英 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于柱形电场分析器的磁偏转质谱计，属于仪器仪表技术领域。磁偏转质谱计主要包括离子源，第一狭缝，柱形电场分析器，第二狭缝，磁场分析器和离子流检测器；其中，柱形电场分析器和磁场分析器之间反向串联；该磁偏转质谱计能够使得磁场和电场产生的能量色散相互抵消，从而使得磁偏转质谱计具有能量和方向双重聚焦的能力，大大提高其分辨本领。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电场 分析器 偏转 质谱计 | ||
【主权项】：
1.一种基于柱形电场分析器的磁偏转质谱计，其特征在于：所述磁偏转质谱计主要包括离子源(1)，第一狭缝(2)，柱形电场分析器(3)，第二狭缝(4)，磁场分析器(5)和离子流检测器(6)；其中，所述柱形电场分析器(3)和磁场分析器(5)之间反向串联；所述磁场分析器(5)的离子束出射最大偏转角γmax满足式(Ⅰ)所示关系，曲面半径r满足式(Ⅱ)所示关系；所述离子源(1)与第一狭缝(2)之间的距离d1，所述磁场分析器(5)端面与第二狭缝(4)的距离d2满足式(Ⅲ)所示关系；所述柱形电场分析器(3)的偏转角Φ满足式(Ⅳ)所示关系；![]()
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其中，所述R0表示柱形电场分析器的曲率半径，所述Rmax表示离子束出射最大偏转半径；所述磁场分析器的上下端面为曲面结构。
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