[发明专利]一种基于适配体‑光寻址电位传感器的重金属检测方法在审

专利信息
申请号: 201610802314.2 申请日: 2016-09-05
公开(公告)号: CN106645317A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 贾芸芳;范清杰 申请(专利权)人: 南开大学;天津艾利安电子科技有限公司;天津市兰力科化学电子高技术有限公司
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司12211 代理人: 杨慧玲
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种“一种基于适配体‑光寻址电位传感器的重金属检测方法”,该方法以阵列式布局的光寻址电位传感器作为衬底,不同种类的重金属离子适配体探针固定于各光寻址传感器上表面,可实现多种重金属离子的高灵敏度、高可靠性、高分辨率的重金属离子检测,可解决传统电化学型汞电极具有毒性、对环境的二次污染等问题。
搜索关键词: 一种 基于 适配体 寻址 电位 传感器 重金属 检测 方法
【主权项】:
一种基于适配体‑光寻址电位传感器的重金属检测方法,包括三个主要步骤:1)光寻址传感器衬底的功能化处理,先用食人鱼溶液浸泡光寻址传感器,再用超纯水冲洗,然后用APTES硅烷化处理,最后将末端固定有氨基的重金属适配体探针固定于光寻址传感器衬底上表面;2)原始水体样本的预处理,即,原始样本经活性炭吸附过滤后,由功能化超细纤维薄膜富集其中的重金属离子,然后再将金属离子洗脱,形成待测溶液;3)定量检测,将适配体‑光寻址电位传感器装载在“光电型生化量半导体传感器的封装探头”,将待测溶液注入芯片上表面,测量光寻址电位传感器输出电流后,采用校正曲线法,对被测重金属离子浓度进行定量分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南开大学;天津艾利安电子科技有限公司;天津市兰力科化学电子高技术有限公司,未经南开大学;天津艾利安电子科技有限公司;天津市兰力科化学电子高技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610802314.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top