[发明专利]一种荧光寿命测量方法及系统有效
| 申请号： | 201610802488.9 | 申请日： | 2016-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN106383102B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 卢凯欣;白玉磊;周延周 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510062 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光寿命测量方法及系统，方法包括：以激发光照射样品，由光电倍增管接收样品产生的荧光，激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压，样品产生的荧光经过光电倍增管后，由荧光屏接收获得第一图像，采用光电探测器采集所述第一图像，获得第二图像；根据第二图像计算样品产生荧光的荧光寿命。与现有技术相比，本发明荧光寿命测量方法及系统，基于外差高次谐波调频实现荧光寿命测量，采用低频方波信号来对光电倍增管的增益电压进行调制，可放宽对像增强器的技术要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 寿命 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种荧光寿命测量方法，其特征在于，包括：以激发光照射样品，由光电倍增管接收样品产生的荧光，所述激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压，其中：![]()
TH0为方波信号X(t)的最小正周期，TH0＝1/fH0，TH1为方波信号为高电平时对应时域带宽的一半，fH0<
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