[发明专利]一种基于MIPI D-PHY协议的回路测试系统有效
| 申请号： | 201610807744.3 | 申请日： | 2016-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN106370999B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 王鹏;吴涛;高鹏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海高等研究院;上海市信息技术研究中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201210 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于MIPI D‑PHY协议的回路测试系统，包括：封装于同一块测试片中的D‑PHY受控模块、D‑PHY主控模块、回路模块和控制模块；所述D‑PHY受控模块和所述D‑PHY主控模块分属不同时钟域，分别通过PPI总线与所述回路模块相连；所述回路模块通过PPI总线在所述D‑PHY受控模块和所述D‑PHY主控模块之间接收和转发数据；所述控制模块分别与所述D‑PHY受控模块、所述D‑PHY主控模块和所述回路模块连接，控制所述D‑PHY受控模块、所述D‑PHY主控模块和所述回路模块的参数配置。本发明的测试系统良好地实现了跨时钟域的集成测试，同时将两个单独使用的芯片模块集成于一款测试片中的设计，简化了D‑PHY芯片验证的复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mipid phy 协议 回路 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于MIPI D‑PHY协议的回路测试系统，其特征在于，包括：封装于同一块测试片中的D‑PHY受控模块、D‑PHY主控模块、回路模块和控制模块；其中，所述D‑PHY受控模块通过输入接口接收外部发包器发送的数据；所述D‑PHY主控模块通过输出接口向外部收包器发送数据；所述D‑PHY受控模块和所述D‑PHY主控模块分属不同时钟域，分别通过PPI总线与所述回路模块相连；所述回路模块通过PPI总线在所述D‑PHY受控模块和所述D‑PHY主控模块之间接收和转发数据；所述控制模块分别与所述D‑PHY受控模块、所述D‑PHY主控模块和所述回路模块连接，控制所述D‑PHY受控模块、所述D‑PHY主控模块和所述回路模块的参数配置。
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