[发明专利]多坩埚下降法制备氟化镁晶体的生长设备及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201610808276.1 申请日: 2016-09-08
公开(公告)号: CN106435730A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 李百中;李铮;施振华;侯印春 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C30B29/12 分类号: C30B29/12;C30B11/14;C30B11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种多坩埚下降法制备氟化镁晶体的生长设备及生长方法,所述多孔石墨坩埚包括籽晶区、晶体生长区、料仓区和坩埚盖四部分;所述生长设备还包括炉膛、下降装置和铜感应加热线圈,所述炉膛的上方和下方设有通气孔,所述炉膛内壁、铜感应线圈和下降杆表面镀有镍层或是耐高温的有机树脂层,能够耐氟化氢等气体腐蚀。所述制备方法包括步骤:设置参数、装炉、抽真空并通入保护气体、待原料完全熔融形成熔体并且籽晶熔细后开始下降制备氟化镁晶体。本发明制备的氟化镁单晶光学质量优良,190nm波长透过率可以达到93.5%;本发明中氟化镁晶体外形和尺寸容易控制;并且多坩埚同时生长氟化镁晶体,生长效率高,有利于工业化生产。
搜索关键词: 坩埚 下降 法制 氟化 晶体 生长 设备 及其 方法
【主权项】:
一种多坩埚下降法制备氟化镁晶体的生长设备,包括多孔石墨坩埚、炉膛、下降装置和铜感应加热线圈,其特征在于,所述的多孔石墨坩埚为圆柱状,设有3~20孔,且由下至上依次连接籽晶区、晶体生长区、料仓区和坩埚盖四部分,四部分材质均为高纯石墨;其中籽晶区的籽晶孔直径为籽晶孔深度15~50mm;晶体生长区的晶体孔为圆孔或方孔,长度为100~300mm,该晶体孔的下部具有扩晶锥度;料仓区的料仓孔为单孔,长度为50~100mm。
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