[发明专利]光学检测方法及光学检测系统在审
| 申请号： | 201610809472.0 | 申请日： | 2016-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN106442540A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 高鸿飞;高琪;陈广飞;马纪艳 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人： | 许静;刘伟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学检测方法和系统，该方法包括：将待检测产品的检测影像和与待检测产品对应的标准样本影像进行对比，获得对比结果；当所述对比结果指示所述检测影像与所述标准样本影像之间的差异大于预设阈值时，直接获得所述检测影像为异常的检测结果；当所述对比结果指示所述检测影像与所述标准样本影像之间的差异小于等于预设阈值时，检测所述检测影像中是否存在预定显示参数异常的检测区域；当所述检测影像中存在预定显示参数异常的检测区域时，获得所述检测影像为异常的检测结果；否则获得所述检测影像为正常的检测结果。该方法及系统能够解决现有技术光学检测的形式比较单一，不能保证优质、快速获得检测结果的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种光学检测方法，其特征在于，包括：将待检测产品的检测影像和与待检测产品对应的标准样本影像进行对比，获得对比结果；当所述对比结果指示所述检测影像与所述标准样本影像之间的差异大于预设阈值时，直接获得所述检测影像为异常的检测结果；当所述对比结果指示所述检测影像与所述标准样本影像之间的差异小于等于预设阈值时，检测所述检测影像中是否存在预定显示参数异常的检测区域；当所述检测影像中存在预定显示参数异常的检测区域时，获得所述检测影像为异常的检测结果；否则获得所述检测影像为正常的检测结果。
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