[发明专利]OTDR内部光路检测方法及系统

摘要

本发明提出一种OTDR内部光路检测方法及系统，在OTDR产品的光路制作过程中进行光路检测，在光路各模块熔接之后，控制光路发光可进行光路通断性的测试，对熔接形成的散状光路进行损耗检测，可以得到光纤熔接的熔接损耗检测，如果损耗值与理想值相差太大，则说明熔接步骤便出现了问题，如果没有问题再对散状光路进行盘光路，对盘状光路进行损耗检测，可以得到盘状光路的光纤弯曲损耗，可能光纤弯曲角度不合适，便可及时调整盘光路，分析检测的时间更快，并且返修光路的周期也缩短了，提高工厂生产效率，降低人工成本，降低批量生产盘光路及OTDR整个产品的不良率。

主权项

1.一种OTDR内部光路检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将光路所需的各模块的光纤熔接起来，形成一散状光路，所述散状光路上具有若干熔接点，且所述散状光路上熔接有用以接收光路反射光信号的雪崩光电二极管；S2：连接所述散状光路到光路检测模块中，配置所述雪崩光电二极管的工作电压；S3：控制所述散状光路进入发光工作状态，采集所述雪崩光电二极管产生的电信号，根据采集的电信号获得相应损耗值；比较设定在光路熔接比较理想情况下AD采集单元得到的值与实际散状光路检测中AD采集单元得到的值，当两者之差小于或等于第一可接受误差范围，则该散状光路合格，进入步骤S4；否则该散状光路不合格；S4：将所述散状光路盘至光路夹具中，盘成圆形或椭圆形，形成一盘状光路；S5：连接所述盘状光路到所述光路检测模块中，控制所述盘状光路进入发光工作状态，采集所述雪崩光电二极管产生的电信号，根据电信号获得相应损耗值；比较设定在光路熔接比较理想情况下AD采集单元得到的值与实测AD采集单元得到的值，当两者之差小于或等于第二可接受误差范围，则该盘状光路合格，否则该盘状光路不合格；所述散状光路包括：LD激光器，雪崩光电二极管，耦合器，延长光纤，接口模块，及辅助光纤模块；所述LD激光器与所述耦合器进行光纤熔接，形成第一熔接点；所述雪崩光电二极管与所述耦合器进行光纤熔接，形成第二熔接点；所述耦合器与所述延长光纤的一端进行光纤熔接，形成第三熔接点；所述延长光纤的另一端与所述接口模块进行光纤熔接，形成第四熔接点；所述接口模块还与所述辅助光纤模块连接；光信号由所述LD激光器发出后传输给所述耦合器，经耦合器进行光耦合后传输到延长光纤中，光信号经过延长光纤到接口模块中，然后传输到辅助光纤模块中；在辅助光纤模块末端发生菲涅尔反射，将大部分光反射回来，反射的光信号按原路径反向传输回来；所述雪崩光电二极管在光传输的过程中一直处于工作状态，采集光路中的光信号。