[发明专利]读出错测试方法与装置有效
| 申请号： | 201610814329.0 | 申请日： | 2016-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN107808686B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 黄吉琼 | 申请（专利权）人： | 北京忆恒创源科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种固态存储设备的测试方法及装置。固态存储设备包括S+1个逻辑单元，S+1个逻辑单元提供多个页条带，页条带包括S+1个物理页，页条带中的S+1个物理页来自S+1个逻辑单元的每一个，每个物理页容纳一个逻辑页。固态存储设备的测试方法包括：向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据，其中，数据被写入页条带0，以及页条带1的物理页0；向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址S+A+1写入数据；擦除页条带0与页条带1所在的物理块；向页条带0的物理页0与页条带1的物理页1写入存在不可纠正错误的数据；从逻辑地址A与A+1读取数据。本发明的实施例可以同时触发对多个存在不可纠正错误数据帧的页条带的读操作，从而测试固态存储设备能否正确工作。 | ||
| 搜索关键词： | 读出 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种固态存储设备的测试方法，其特征在于，所述固态存储设备包括S+1个逻辑单元，所述S+1个逻辑单元提供多个页条带，页条带包括S+1个物理页，页条带中的S+1个物理页来自所述S+1个逻辑单元的每一个，每个物理页容纳一个逻辑页，所述方法包括以下步骤：向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据，其中，数据被写入页条带0，以及页条带1的物理页0；向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址S+A+1写入数据，其中数据被写入页条带1，以及页条带2的物理页0与物理页1；擦除页条带0与页条带1所在的物理块；向页条带0的物理页0与页条带1的物理页1写入存在不可纠正错误的数据；以及从逻辑地址A与A+1读取数据；其中S为正整数，A为非负整数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京忆恒创源科技有限公司，未经北京忆恒创源科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610814329.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
