[发明专利]一种天线综合测试系统在审

专利信息
申请号: 201610815224.7 申请日: 2016-09-12
公开(公告)号: CN107817390A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 韩栋;陈海波;孙赐恩;陈源;邓东亮 申请(专利权)人: 深圳市新益技术有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南山区南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种天线综合测试系统,其特征在于,所述设备包括探头运动控制系统、射频切换系统、数据采集及运算系统、信号传输仪、探头、可对远场和近场辐射参数进行合成,并得出方向图数据并进行数据判定。本发明中辐射参数测试基于阵列天线幅相合成的算法,包含远场和近场两种测试模式,并可以输出对应模式下的方向图数据,然后通过一套高性能的射频切换系统将天线电路参数测试项目集成,可大幅提供基站天线产线品质检验的效率和自动化程度,具有精度高、移动方便、成本低、便于维护的特点。
搜索关键词: 一种 天线 综合测试 系统
【主权项】:
一种天线综合测试系统,其特征在于,所需设备包括:探头运动控制系统:耦接于探头并通过在XYZ三个方向上布置运动轨迹,使探头在被测物辐射场区内实现自由移动;射频切换系统:控制射频信号的发射及接收,并对天线电下倾角进行切换,使能实现射频多通道之间的切换;信号传输仪:用于接收射频切换系统所发射的射频信号并对以输出传输信号;数据采集及运算系统:耦接于信号传输仪以接收传输信号并通过探头以实现数据采集,利用微积分运算得到近场及远场方向图数据,并立即进行判定;其中,所述数据判定的方式为根据标准数据将采集后的数据与其进行对比,并对当前被检物进行判断;所述标准数据是系统根据预存的产品金机数据或直接根据实际测试的数据。
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