[发明专利]基于弱监督学习的SAR图像目标鉴别方法有效

专利信息
申请号: 201610815763.0 申请日: 2016-09-12
公开(公告)号: CN106326938B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 杜兰;代慧;孙永光;王燕;王英华 申请(专利权)人: 西安电子科技大学;西安中电科西电科大雷达技术协同创新研究院有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/46
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于弱监督学习的SAR图像目标鉴别方法,主要解决现有技术鉴别性能低和样本标记成本高的问题。其实现方案是:在训练阶段,先对正图像的样本集和负图像的负样本集分别提取局部限制性编码LLC特征,再用负样本集训练一个潜在的狄利克雷分配LDA模型,并用该模型从正图像样本集中挑选初始正样本集,用以迭代训练二类SVM鉴别器,得到最优鉴别器;在测试阶段,先对测试样本集提取局部限制性编码LLC特征,再用得到的最优鉴别器对测试样本集进行鉴别。本发明在鉴别性能与全监督的二类SVM鉴别器相近的同时减少了人工标记的成本,更具有实用性,而且,对比杂波训练的一类SVDD鉴别器在复杂场景下的鉴别性能更优,适用于SAR图像目标鉴别。
搜索关键词: 鉴别器 鉴别性能 目标鉴别 测试样本集 负样本 图像 测试阶段 迭代训练 复杂场景 人工标记 训练阶段 样本标记 正样本集 潜在的 样本集 正图像 监督 对正 杂波 样本 鉴别 并用 学习 分配
【主权项】:
1.基于弱监督学习的SAR图像目标鉴别方法,包括:A、训练步骤(A1)对正图像样本集X+和负图像的负样本集X‑中的每个训练样本提取M维局部限制性编码LLC特征,M=1024,其中,正图像样本集X+中没有人工标记,既包含正样本也包含负样本:(A11)对每个训练样本提取密集尺度不变特征变换SIFT特征,并对所有训练样本的密集尺度不变特征变换SIFT特征用Kmeans聚成M类;(A12)用M个聚类中心构造码本CB,即M个聚类中心按列排列组成的矩阵作为码本CB;(A13)用构造的码本CB对每个训练样本的密集尺度不变特征变换SIFT特征进行局部限制性编码,得到训练样本编码后的局部限制性编码LLC特征:(A13.1)对训练样本x的密集尺度不变特征变换SIFT特征D=[d1,...,dn,...,dK]中的第n个128维尺度不变特征变换SIFT特征dn,计算dn与码本CB中每个码本元素的欧式距离,找到欧式距离最小的5个码本元素,并按列排列得到局部基LBn;(A13.2)分别用尺度不变特征变换SIFT特征dn与其对应的局部基LBn中的5个元素的欧式距离除以其与该5个元素的欧式距离之和,得到局部基LBn中的5个元素对应的编码系数(A13.3)将码本CB中所有码本元素对应的编码系数组成列向量,得到特征dn的编码系数cn,其中,码本CB中除了局部基LBn中的码本元素之外,其他的码本元素对应的编码系数均为0;(A13.4)对训练样本x的密集尺度不变特征变换SIFT特征D=[d1,...,dn,...,dK]中的K个128维尺度不变特征变换SIFT特征按步骤(A13.1)‑(A13.3)进行编码,得到对应的编码系数矩阵c=[c1,...,cn,...,cK],对编码系数矩阵c中的每一行元素求其最大值,得到训练样本x的M维局部限制性编码LLC特征C;(A2)用负图像的负样本集X训练潜在的狄利克雷分配LDA主题模型,并用该潜在的狄利克雷分配LDA主题模型从正图像样本集X+中挑选初始的正样本集所述用该潜在的狄利克雷分配LDA主题模型从正图像样本集X+中挑选初始的正样本集其实现如下:(A2.1)根据潜在的狄利克雷分配LDA模型,计算训练样本中所有样本的似然概率;(A2.2)将负图像的负样本集X‑中所有负样本的似然概率按从大到小的顺序排序,取第0.8×Q的负样本的似然概率作为挑选初始正样本集的挑选门限Tr,其中Q为负样本集X‑中负样本的个数;(A2.3)将正图像的样本集X+中样本的似然概率小于挑选门限Tr的样本选出,组成新的样本集合,即为挑选的初始正样本集(A3)用负样本集X和初始的正样本集迭代训练全监督的二类SVM鉴别器,得到最优鉴别器;B、测试步骤(B1)对测试样本集中的每个测试样本提取M维局部限制性编码LLC特征:(B11)对每个测试样本提取密集尺度不变特征变换SIFT特征;(B12)用训练步骤(A12)中构造的码本CB对每个测试样本的密集尺度不变特征变换SIFT特征提取局部限制性编码,得到每个测试样本的局部限制性编码LLC特征;(B2)用训练得到的最优鉴别器根据测试样本的局部限制性编码LLC特征对测试样本进行分类鉴别,得到鉴别结果。
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