[发明专利]一种用于高精度测绘一体机的倾斜测量方法在审

专利信息
申请号: 201610816128.4 申请日: 2016-09-09
公开(公告)号: CN107806858A 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 张兴智;王超;张沛尧;刘超;邱烺;杨荣仕;朱魁华;邢超 申请(专利权)人: 上海华测导航技术股份有限公司
主分类号: G01C9/00 分类号: G01C9/00;G01S19/43
代理公司: 上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)31288 代理人: 杨小双
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及测绘技术领域,本发明提供了一种用于高精度测绘一体机的倾斜测量方法,所述倾斜测量方法包括带有载波相位差分定位(RTK)功能的测绘一体机输出带有定位标志的定位信息;测绘一体机的倾斜测量模块获取若干个不同位置的定位信息并根据定位标志判断该定位信息是否可以用来进行下一步计算,若可以,根据合格的定位信息进行最小二乘球拟合得到最终的对中杆底部被测点的位置。本发明实现了测绘一体机的倾斜测量,使用过程简单,测量精度高且不受外部环境因素干扰。
搜索关键词: 一种 用于 高精度 测绘 一体机 倾斜 测量方法
【主权项】:
一种用于高精度测绘一体机的倾斜测量方法,其特征在于,所述倾斜测量方法包括:带有载波相位差分定位(RTK)功能的测绘一体机输出带有定位标志的定位信息;测绘一体机的倾斜测量模块获取若干个不同位置的定位信息并根据定位标志判断该定位信息是否可以用来进行下一步计算,若可以,根据合格的定位信息进行最小二乘球拟合得到最终的对中杆底部被测点的位置。
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