[发明专利]区分缺陷在玻璃基板A面还是B面的检查法在审
申请号: | 201610816893.6 | 申请日: | 2016-09-12 |
公开(公告)号: | CN106292009A | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 彭寿;谢军;王国全;闵蛟;张丽 | 申请(专利权)人: | 成都中光电科技有限公司;东旭集团有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 | 代理人: | 钱成岑,詹永斌 |
地址: | 611731 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了区分缺陷在玻璃基板A面还是B面的检查法,步骤如下:S11:将待检查的玻璃基板放置于专用检查暗房内,使其能达到平整摊开的状态,A面向上;S12:找出表面缺陷所在的位置;S13:检验员使用灯光倾斜照射至缺陷处,如果此缺陷在A面,光线经过反射与折射后,在肉眼得到的信息中,会有反射光和折射光同时反馈的相同两种缺陷信息,如果缺陷在B面,则没有折射光形成的倒影;S14:根据表面缺陷在灯光下呈现的不同状态判定出缺陷所在的位置在A面还是B面。本发明提高了检验员对玻璃基板表面缺陷的检测准确性,保证了判断的准确性,保证了玻璃基板表面质量,提高了检验员工作效率,降低了公司因品质过剩造成的损失。 | ||
搜索关键词: | 区分 缺陷 玻璃 还是 检查法 | ||
【主权项】:
区分缺陷在玻璃基板A面还是B面的检查法,其特征在于,它包括如下步骤:S11:将待检查的玻璃基板放置于专用检查暗房内,将玻璃基板固定在检查装置上,使其能达到平整摊开的状态,A面向上;S12:通过缺陷检查方法,找出表面缺陷所在的位置;S13:找到缺陷所处玻璃基板的具体位置后,检验员使用灯光倾斜照射至缺陷处,光线照射至玻璃表面后,有反射作用,并且玻璃具有一定厚度,光线穿过玻璃表面后,有一定的空间距离进行折射作用,如果此缺陷在A面,光线经过反射与折射后,在肉眼得到的信息中,会有反射光和折射光同时反馈的相同两种缺陷信息,大脑会认为眼睛不仅是看到了缺陷的实体,而且还看到了由于光线折射后形成的倒影,如果缺陷在B面,则没有折射光形成的倒影;S14:根据表面缺陷在灯光下呈现的不同状态判定出缺陷所在的位置在A面还是B面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都中光电科技有限公司;东旭集团有限公司,未经成都中光电科技有限公司;东旭集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610816893.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种石油长输管路加药降凝装置
- 下一篇:一种油田集输管线电加热带