[发明专利]一种基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法在审
| 申请号： | 201610819610.3 | 申请日： | 2016-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN107817439A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 高成;张明杰;傅成城;黄姣英 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法，该方法有四大步骤步骤一对SRAM型FPGA的配置网表文件进行解析，采用SelectMAP配置方法，利用可重构技术设计一套遍历式单粒子故障注入方法；步骤二对FPGA进行功能电路配置，并对搭载有具体功能电路的FPGA实施遍历式故障注入试验；步骤三收集敏感位数据，利用敏感位数据验证三模冗余设计的效率，并计算功能电路的敏感因子；步骤四利用敏感因子计算功能电路的功能失效时间。本发明能够对搭载有功能电路的FPGA进行功能失效时间评估，计算功能电路时间参数，提高预测精度和运算效率，为单粒子加固提供数据上的支持，具有较好的可行性和推广价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 sram fpga 敏感 因子 功能 失效 时间 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤一：对SRAM型FPGA的配置网表文件进行解析，采用SelectMAP配置方法，利用可重构技术设计一套遍历式单粒子故障注入方法；步骤二：对FPGA进行功能电路配置，并对搭载有具体功能电路的FPGA实施遍历式故障注入试验；步骤三：收集敏感位数据，利用敏感位数据验证三模冗余设计的效率，并计算功能电路的敏感因子；步骤四：利用敏感因子计算功能电路的功能失效时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610819610.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
