[发明专利]用于静电放电保护的栅耦合NMOS器件有效

专利信息
申请号: 201610821186.6 申请日: 2016-09-13
公开(公告)号: CN107086216B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 金度熙 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 王建国;许伟群
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据一个实施例的栅耦合NMOS器件包括:P型阱区、N型阱区和N沟道MOS晶体管、N+型抽头区、第一导电层以及第二导电层。N型阱区包围P型阱区。N型阱区的内侧直接接触P型阱区的一个侧面。N沟道MOS晶体管设置在P型阱区中。N+型抽头区设置在N型阱区中。第一导电层通过插置第一绝缘层而设置在N型阱区上,并且与N型阱区和第一绝缘层组成MOS电容器。第二导电层通过插置第二绝缘层而设置在N型阱区上,并且组成电阻器。第一导电层的第一端部直接接触第二导电层的第一端部。
搜索关键词: 用于 静电 放电 保护 耦合 nmos 器件
【主权项】:
一种栅耦合NMOS器件,包括:P型阱区;N型阱区,包围P型阱区;N沟道MOS晶体管,设置在P型阱区中;N+型抽头区,设置在N型阱区中;第一导电层,通过插置第一绝缘层而设置在N型阱区之上,并且与N型阱区和第一绝缘层组成MOS电容器;以及第二导电层,通过插置第二绝缘层而设置在N型阱区之上,并且组成电阻器,其中,第一导电层的第一端部接触第二导电层的第一端部。
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