[发明专利]采用X射线荧光光谱仪快速测定萤石中氟化钙含量的方法有效
申请号: | 201610821223.3 | 申请日: | 2016-09-13 |
公开(公告)号: | CN106338534B | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 李波;华绍广;曾申进;汪洋;马大平;夏向伟 | 申请(专利权)人: | 中钢集团马鞍山矿山研究院有限公司;华唯金属矿产资源高效循环利用国家工程研究中心有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 马鞍山市金桥专利代理有限公司 34111 | 代理人: | 常前发;奚志鹏 |
地址: | 243000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种采用X射线荧光光谱仪快速测定萤石中氟化钙含量的方法,准确称取1.5000—2.2000g萤石试样及萤石试样质量3.0‑3.3倍的荧光专用混合熔剂,混合均匀后置于黄‑铂金坩埚中,加入脱模剂溴化锂8滴,于高频自动熔样机中,按照预设的自动熔样程序进行熔片,制成用于分析的玻璃片,将熔融制备好的试样片放入波长色散型X射线荧光光谱仪中,选定工作参数,采用氟的Kα线作为分析谱线,由仪器测量,自动计算出试样中氟化钙的含量。本发明方法克服了试样的粒度效应和矿物效应,同时方法操作简便、耗时短、无化学试剂废液带来的污染、分析范围宽、准确度高、重现性好,适用于各类萤石成分的测定,尤其是碳酸钙、硫酸钙含量较高的萤石原矿中氟化钙的测定。 | ||
搜索关键词: | 采用 射线 荧光 光谱仪 快速 测定 萤石 氟化钙 含量 方法 | ||
【主权项】:
1.一种采用X射线荧光光谱仪快速测定萤石中氟化钙含量的方法,其特征在于采用以下步骤和测试条件:(1)准确称取1.5000—2.2000g萤石试样及萤石试样质量3.0‑3.3倍的荧光专用混合熔剂,萤石试样与荧光专用混合熔剂的总质量控制在5.0000—9.0000g之间;所述的荧光专用混合熔剂是由四硼酸锂、偏硼酸锂配置而成,按质量百分含量配比为:四硼酸锂67%,偏硼酸锂33%;(2)将称取好的萤石试样与荧光专用混合熔剂混合均匀后,置于黄‑铂金坩埚中,加入脱模剂溴化锂溶液8滴,于高频自动熔样机中,按照预设的自动熔样程序进行熔片,制成用于分析的萤石试样玻璃片;熔片条件为:预热时间170—190s,熔融温度910—950℃,熔融时间330—390s,自冷时间220—260s,风冷时间110—130s;所述的脱模剂溴化锂溶液的浓度为:LiBr:30g/100mL;(3)将熔融制备好的萤石试样玻璃片放入波长色散型X射线荧光光谱仪中,选定X射线荧光光谱仪工作参数进行测量,自动计算出萤石试样中氟化钙的含量。
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