[发明专利]一种TIS快速测量的方法

摘要

本发明公开了一种TIS快速测量的方法，该测量方法先对被测物发出的信号在球面空间内各个测试点处进行发射功率测试得到球面数据，再选取球面数据中发射功率最强的几个预测试点，在预测试点处向被测物发射测试信号确定各个预测试点处测试信号的最小发射功率，再将所有预测试点的球面数据与其的最小发射功率进行运算得到各个预测试点的偏差系数，将所有预测试点的偏差系数进行平均运算得到平均偏差系数，将平均偏差系数与其他各个测试点在球面数据中对应的值进行运算得出各个点的最小发射功率的估测值，将所有的估测值进行运算得出TIS结果，而无需对每个测试点都从某一固定功率开始测试，大大减少了测试的数据量，缩短了测试的时间，提高了测试的效率。

主权项

一种TIS快速测量的方法，其特征是，包括如下步骤：S1.控制被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；S2.从球面空间中选取数个测试点作为预测试点，从被选取的某个预测试点所在的空间位置处以发射源向被测物发射测试信号并测试被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为该预测试点的最小发射功率，将该预测试点的最小发射功率与在S1步骤中被测物发射的信号在该点的发射功率进行运算得到该点的偏差系数，重复该步骤得到所有预测试点的偏差系数；S3.将测得的所有预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数；S4.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的平均偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的最小发射功率的估测值；S5.将所有测试点的最小发射功率的估测值进行运算得到被测物的TIS测试结果。