[发明专利]硬X射线微聚焦用WSi2/Al0.98Si0.02多层膜Laue透镜有效

专利信息
申请号: 201610822539.4 申请日: 2016-09-13
公开(公告)号: CN106324711B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 朱京涛;张嘉怡;朱圣明;冀斌 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;G02B3/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司31225 代理人: 陈亮
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及硬X射线微聚焦用WSi2/Al0.98Si0.02多层膜Laue透镜,该多层膜Laue透镜由WSi2层和掺杂2wt%Si的金属Al层交替镀制形成,厚度比为0.5。与现有技术相比,本发明提出新型材料Laue透镜的设计,在保证衍射效率的前提下,减小上千层膜层镀制过程中膜系的应力,降低多层膜的界面粗糙度,改善成膜质量,有效增大Laue透镜的口径和光通量,优化聚焦性能。
搜索关键词: 射线 聚焦 wsi2 al0 98 si0 02 多层 laue 透镜
【主权项】:
硬X射线微聚焦用WSi2/Al0.98Si0.02多层膜Laue透镜,其特征在于,该多层膜Laue透镜由WSi2层和掺杂2wt%Si的金属Al层交替镀制形成。
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