[发明专利]一种磁共振扫描短TE成像方法及磁共振扫描系统有效
| 申请号： | 201610826382.2 | 申请日： | 2013-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN106308798B | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 翟人宽 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;G01R33/561 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种磁共振扫描短TE成像方法及磁共振扫描系统，通过以下方法实现短TE成像：使用短TE采集磁共振信号，使K空间中相位编码方向的数据线由于短TE而缺失的数据点分布于K空间读出方向的不同端；利用并行采集重建的方法对K空间中缺失的数据点进行填补；将填补完整的K空间数据通过傅里叶变换转换成图像。本发明提出的磁共振扫描短TE成像方法与现有的短TE成像方法相比，能够避免产生吉布斯伪影或牺牲分辨率对图像质量造成的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 扫描 te 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种磁共振扫描短TE成像方法，其特征在于，包括以下步骤：使用短TE采集磁共振信号，使K空间中相位编码方向的第奇数条和第偶数条数据线由于短TE而缺失的数据点分布于K空间读出方向的不同端；将K空间数据重建成图像；所述K空间数据在读出方向上对应一个全采样区域和两个欠采样区域，所述全采样区域位于两个欠采样区域之间，且两个欠采样区域大小相同。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技有限公司，未经上海联影医疗科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610826382.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种刺梨口服液及其生产工艺
- 下一篇：无杆肱骨部件和相关的外科器械及方法
