[发明专利]动态载荷下共形承载阵列天线电性能快速分析方法有效
申请号: | 201610831658.6 | 申请日: | 2016-09-19 |
公开(公告)号: | CN106383949B | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 宋立伟;韩创;黄进;周金柱;李鹏 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 | 代理人: | 郭官厚 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及动态载荷下共形承载阵列天线电性能快速分析方法,其包括:(1)建立结构有限元模型;(2)提取阵列天线单元中心位置坐标rn;(3)给有限元模型加载位置约束,模态分析后提取各阶频率ωi及振型向量;(4)将天线阵面的动态结构变形表示为Δr(β,t)=Pq(t);(5)提取出天线单元的中心位置偏移量;(6)将天线单元中心位置坐标rn和天线单元中心位置偏移量Δrn(β,t),代入共形承载阵列天线的远场方向图计算公式中,获得动态载荷下结构变形对天线远场方向图影响的关系式;(7)将步骤(6)得到的关系式中的指数项exp(jk·Δrn(β,t))进行泰勒展开并取前三阶,将天线远场方向图写成了天线结构相关项和载荷相关项的线性组合的形式。 | ||
搜索关键词: | 动态 载荷 下共形 承载 阵列 天线 性能 快速 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.动态载荷下共形承载阵列天线电性能快速分析方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)根据共形承载阵列天线的结构参数、几何参数以及材料属性,建立结构有限元模型;(2)提取阵列天线单元中心位置坐标rn,rn的表达式为:rn=(xn,yn,zn)(n=1,2,…N),其中:xn表示第n个天线单元的面内横坐标;yn表示第n个天线单元的面内纵坐标;zn表示第n个天线单元垂直面内的法向坐标;N表示天线单元个数;(3)给步骤(1)得到的有限元模型加载位置约束,模态分析后提取各阶频率ωi及对应的振型向量{P}i(i=1,2,…I),其中I表示提取的振型阶数;(4)根据振型叠加法,将天线阵面的动态结构变形表示为Δr(β,t)=Pq(t),其中:β是与天线结构相关的结构参数、几何参数以及材料属性,P是振型矩阵,P=[{P}1,{P}2,···,{P}i,…,{P}I];t是时间;q(t)是模态位移,q(t)=(q1(t),q2(t),···,qi(t),…,qI(t))T,qi(t)表示第i阶振型在结构变形Δr(β,t)中所占的比重;(5)从天线阵面的结构变形中提取出天线单元的中心位置偏移量,第n个天线单元中心位置偏移量的表达式为:其中:P(n)是第n个天线单元在所有振型中的相对变形量矩阵;是第n个天线单元在第i阶振型中的相对变形量向量;q(t)是模态位移矩阵;qi(t)表示第i阶振型在结构变形Δr(β,t)中所占的比重;(6)将步骤(2)得到的天线单元中心位置坐标rn和步骤(5)得到的天线单元中心位置偏移量Δrn(β,t),代入共形承载阵列天线的远场方向图计算公式中,获得动态载荷下结构变形对天线远场方向图影响的关系式:其中:an表示第n个天线单元的激励幅相;fn(θ,φ)表示第n个天线单元的有源方向图;k表示波长数,k=2π/λ,λ表示波长,j表示虚数单位;k表示传播常数,其是一个矢量;Δxn、Δyn和Δzn分别是第n个天线单元中心位置偏移量在三个坐标轴上的分量;(7)将步骤(6)得到的关系式中的指数项exp(jk·Δrn(β,t))进行泰勒展开并取前三阶,将天线远场方向图写成了天线结构相关项和载荷相关项的线性组合的形式,具体公式如下:其中,gn(θ,φ)=anfn(θ,φ)exp(jk·rn);an表示第n个天线单元的激励幅相;fn(θ,φ)表示第n个天线单元的有源方向图;j表示虚数单位;k表示传播常数,其是一个矢量;rn为第n天线单元中心位置坐标;是第n个天线单元在第i阶振型中的相对变形量向量;U表示单位列向量;EZ(1)(θ,φ),EZ(2)(θ,φ),EZ(3)(θ,φ)为结构相关项;q(t)为模态位移矩阵;qT(t)为模态位移的转置矩阵I表示提取的振型阶数。
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