[发明专利]具有散热片开口的包封半导体装置封装以及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610832122.6 申请日: 2016-09-19
公开(公告)号: CN106941083B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 大卫·阿多;杰弗里·凯文·琼斯 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L23/31;H01L23/367
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙尚白
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施例包括封装半导体装置和制造封装半导体装置的方法。半导体管芯包括耦合到所述管芯的底部表面的导电特征。所述导电特征仅仅部分地覆盖底部管芯表面以限定跨越所述底部管芯表面的部分的无导体区。所述管芯通过将包封材料附着到所述底部管芯表面(例如,包括所述无导体区上方)上来包封。所述包封材料包括暴露所述导电特征的开口。在包封所述管芯之后,将散热片置放于所述开口内,并且将所述散热片的表面附着到所述导电特征。因为在包封所述管芯之后附着所述散热片,所以散热片侧壁未直接键合到所述包封材料。
搜索关键词: 具有 散热片 开口 半导体 装置 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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