[发明专利]结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法

摘要

本发明涉及一种结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法。该方法包括：在扫描电镜中对试样进行原位拉伸试验，并在试样拉伸至设定的不同宏观应变阶段时，对每个宏观应变阶段的试样进行原位的电子背散射衍射晶体取向扫描，以获取该宏观应变阶段的试样的原位的晶体取向信息和晶粒尺寸参数信息；基于所述晶体取向信息，利用电子背散射衍射技术的应变分析方法定性地表征出试样在塑性变形过程中的晶粒应变；以及基于所述晶粒尺寸参数信息，通过设定的方式得出能够反映晶粒应变的目标参数，通过该目标参数的变化，定量地表征试样在塑性变形过程中的晶粒应变。本发明能够定性、定量地表征材料在塑性变形过程中的晶粒应变。

主权项

1.一种结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：S10、在扫描电镜中对试样进行原位拉伸试验，并在试样拉伸至设定的不同宏观应变阶段时，对每个宏观应变阶段的试样进行原位的电子背散射衍射晶体取向扫描，以获取该宏观应变阶段的试样的原位的晶体取向信息和晶粒尺寸参数信息；S20、基于所述晶体取向信息，利用电子背散射衍射技术的应变分析方法定性地表征出试样在塑性变形过程中的晶粒应变；以及S30、基于所述晶粒尺寸参数信息，通过设定的方式得出能够反映晶粒应变的目标参数，其中，所述目标参数为原位的单元晶粒在二维平面内的面积；S40、通过该目标参数的变化，定量地表征试样在塑性变形过程中的晶粒应变，所述S40具体包括：在试样拉伸至不同的宏观应变阶段时，通过原位的单元晶粒在该宏观应变阶段变形前后在二维平面内的面积变化并具体按照公式(1)来定量地表征试样的晶粒应变：ε＝(S_f‑S₀)/S₀                                 (1)公式(1)中，ε定义为晶粒应变，S₀表示原位的单元晶粒在本次宏观应变阶段的变形前在二维平面内的面积，S_f表示原位的单元晶粒在本次宏观应变阶段的变形后在二维平面内的面积。