[发明专利]一种氮化镓基激光器外延结构及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201610833227.3 申请日: 2016-09-20
公开(公告)号: CN106207754A 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 马旺;王成新;徐现刚 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343
代理公司: 济南日新专利代理事务所 37224 代理人: 王书刚
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种氮化镓基激光器外延结构及其生长方法,该外延结构自下至上依次包含衬底、成核层、高温GaN层、n型GaN/AlGaN超晶格光限制层、n型波导层、发光层、pAlxGa1‑xN/pInyGa1‑yN超晶格电子阻挡层、P型GaN波导层、P型GaN/AlGaN超晶格光限制层和表面欧姆接触层;其生长方法是在衬底上依次生长所述各层,pAlxGa1‑xN/pInyGa1‑yN超晶格电子阻挡层生长压力为80torr‑260torr,生长温度800℃‑1000℃。本发明采用pAlGaN/pInGaN超晶格电子阻挡层,通过pInGaN层生长引入的张应力缓解pAlGaN层生长引入的压应力,有利于pAlGaN层的生长,又能改善pAlGaN层带来的能带结构变化,从而改善和解决电子积聚和电子泄露问题,能够提高pAlGaN层的折射率。
搜索关键词: 一种 氮化 激光器 外延 结构 及其 生长 方法
【主权项】:
一种氮化镓基激光器外延结构,自下至上依次包含衬底、成核层、高温GaN层、n型GaN/AlGaN超晶格光限制层、n型GaN波导层、发光层、电子阻挡层、P型GaN波导层、P型GaN/AlGaN超晶格光限制层和表面欧姆接触层,其特征是:所述电子阻挡层为pAlxGa1‑xN/pInyGa1‑yN超晶格电子阻挡层。
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