[发明专利]一种内存泄漏调试方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610835054.9 申请日: 2016-09-20
公开(公告)号: CN106502880B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 杨枭 申请(专利权)人: 东软集团股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 刘喆;刘铁生
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种内存泄漏调试方法及装置,涉及计算机技术领域,主要目的在于解决在统一内存申请的情况下无法对造成内存泄漏的代码模块进行定位的问题。本发明的方法包括:在内存申请函数被调用时,调用内存泄露检测函数,其中程序中的不同模块通过调用所述内存申请函数申请内存;通过执行所述内存泄露检测函数获取未释放内存的内存申请调试信息,所述内存申请调试信息包括申请内存的模块编号及其对应的申请内存的栈信息;将栈信息相同的模块确定为处于同一个统一内存申请框架下的模块;在同一个统一内存申请框架下,将未释放内存的数量最多的模块编号所对应的模块确定为存在内存泄露的可疑模块。
搜索关键词: 一种 内存 泄漏 调试 方法 装置
【主权项】:
1.一种内存泄漏调试方法,其特征在于,所述方法包括:在内存申请函数被调用时,调用内存泄露检测函数,其中程序中的不同模块通过调用所述内存申请函数申请内存;通过执行所述内存泄露检测函数获取未释放内存的内存申请调试信息,所述内存申请调试信息包括申请内存的模块编号及其对应的申请内存的栈信息,所述栈信息中记录有各个所述申请内存的模块编号对应的模块在调用所述内存申请函数时的函数信息;将栈信息相同的模块确定为处于同一个统一内存申请框架下的模块;在同一个统一内存申请框架下,将未释放内存的数量最多的模块编号所对应的模块确定为存在内存泄露的可疑模块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东软集团股份有限公司,未经东软集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610835054.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top