[发明专利]基于连接向量特征匹配的暗场图像配准方法在审
| 申请号： | 201610835435.7 | 申请日： | 2016-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN106373122A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 刘国栋;陈凤东;刘炳国;黄卓 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/00;G06K9/46;G06K9/40 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 基于连接向量特征匹配的暗场图像配准方法，属于光学元件检测技术领域。解决了现有暗场图像配准方法存在对同一个光学元件在多次在线检测中得到多幅暗场图像之间的配准，配准不适用且准确性差的问题。本发明首先对基准图像及待配准图像分别进行图像预处理，尽可能消除干扰，接着求取损伤点的轮廓，并求其外接圆圆心坐标，作为损伤点的位置值。然后构建损伤点连接向量并计算连接向量特征，之后使用借鉴BBF算法实现特征精确匹配，最后利用匹配后的特征点对进行仿射变换参数计算，完成配准。本发明适用于光学元件检测的图像匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 连接 向量 特征 匹配 暗场 图像 方法 | ||
【主权项】：
基于连接向量特征匹配的暗场图像配准方法，其特征在于，该方法的具体步骤为：步骤一、对基准图像及待配准图像分别进行图像预处理，消除图像中的干扰，获取图像中的损伤点的轮廓；步骤二、分别求步骤一获取的基准图像和待配准图像中的损伤点轮廓的外接圆的圆心坐标，作为图像中损伤点的位置值；步骤三、对分别对步骤二求的基准图像和待配准图像中的损伤点的坐标点进行连接，建损伤点连接向量并计算连接向量的特征向量；步骤四、采用BBF算法对基准图像中的特征向量和待配准图像中的特征向量进行特征点匹配，对匹配后的特征点进行仿射变换参数计算，完成暗场图像配准。
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