[发明专利]一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法有效
申请号: | 201610835609.X | 申请日: | 2016-09-20 |
公开(公告)号: | CN106443782B | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | 刘敬寿;丁文龙;杨海盟;谷阳;肖子亢 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及油气田勘探开发领域,尤其是一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法。发明通过对断层和裂缝的数据化,在点充填的基础上,选定合适的网格单元边长,设计了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的评价模型,实现了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的定量计算。本发明对于断层和裂缝参数的统计计算、野外地质素描图的处理等多个方面具有较高的实用价值,并且预测成本低廉、可操作性强,能大量减少人力的支出。 | ||
搜索关键词: | 一种 断层 裂缝 发育 密度 均匀 以及 组合 样式 评价 方法 | ||
【主权项】:
1.一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法,评价的步骤如下:1)通过野外观测、遥感监测、地震解释、薄片观测、油田动态开发以及小层对比技术,获取断层和裂缝的平面展布图;2)将每条断层和裂缝沿着走向线依次取点,断层和裂缝取点依次标记为ai0、ai1、ai2...ain‑1、ain,其中,i表示第i条断层或裂缝,n为该条断层或裂缝的取点数目;设置断层和裂缝的充填步长b,充填后得到的断层和裂缝数据体为ΩD(X,Y,Q),X,Y为充填点的坐标,Q代表该充填点为第几条断层和裂缝;3)确定断层和裂缝参数计算单元边长r,通过计算不同边长r的计算单元的平均面密度ρraver,拟合公式得到乘幂函数:ρraver=a·rc (1)公式(1)中,ρraver为不同单元边长r对应的工区断层和裂缝平均面密度,单位:km/km2;r为不同的计算单元边长,单位:km;a、c为拟合系数,无量纲,计算整个工区断层和裂缝的平均面密度ρaver:公式(2)中,L为工区内断层和裂缝的总长度;S为工区面积;公式(3)中ropt为ρraver=ρaver时对应的单元边长,单位:km;a、c为拟合系数,无量纲;计算单元边长r选取1.8×ropt~2.2×ropt;4)统计数据体ΩD(X,Y,Q)中落入单元Ek的数据体TD(X,Y,Q),记录数目为node,对于任意一个单元Ek,Ek的边长为r,在单元边界依次布置充填步长为b的m条测线,第i条测线计算断层和裂缝充填点的筛选条件:Xk+b·(k‑1)<TDX≤Xk+b·k (4)公式(4)中,Xk为单元Ek左下方的底角坐标,单位:km;b为充填步长,单位:km;k为单元边界依次布置的第k条测线;TDX为数据体TD充填点的X坐标,单位:km;对于第i条测线,记录数据体TD中充填点X坐标满足公式(4)的点数ni,从这ni个点中筛选出属性值Q不同的点数numi;该计算单元的线密度计算公式为:公式(5)中,ρl为单元内断层和裂缝线密度,单位:条/km;m为该单元的测线数目;r为单元的单元边长,单位:km;numi为每条测线经过的断层和裂缝条数;从而建立断层和裂缝的线密度计算模型;5)记录落入单元Ek的数据体TD(X,Y,Q)的点数为node,该单元断层和裂缝的面密度计算公式为:公式(6)中,ρa为断层和裂缝的面密度,单位:km/km2;node为落入该单元的断层和裂缝充填点数目;b为充填步长,单位:km;r为单元的边长,单位:km;从而建立断层和裂缝的面密度计算模型;6)将单元Ek划分为25个小栅格,断层和裂缝分布均匀性采用评价指数G表示为:公式(7)中,pi为数据体TD中的数据落入第i个栅格的概率;从而建立断层和裂缝的均匀性评价模型;7)依据断层和裂缝的平面形态、组合关系,在单个计算单元内,对每条断层和裂缝走向变化大于10°的断层和裂缝做分段处理,分别计算分段后断层和裂缝间的夹角δi;定义断层和裂缝的组合样式评价指数W为:公式(8)中,u为计算单元内,将走向变化大于10°的断层分段处理后,不同“断层段”走向间夹角的总数目;δi为任意两条“断层段”走向之间的夹角,单位:°;从而建立断层和裂缝的组合样式评价模型;8)利用公式(1)‑(8)编写相应的程序,定量计算断层和裂缝的线密度、面密度、均匀性以及组合样式。
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