[发明专利]一种同时测量相位和古斯-汉欣位移的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610836571.8 申请日: 2016-09-20
公开(公告)号: CN106247953B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 张志伟;张文静;孙运强;蔡睿博;刘霞 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01J9/02
代理公司: 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 代理人: 李印贵
地址: 030051 山西省太原*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明一种同时测量相位和古斯‑汉欣位移的方法及装置,特点是激光束通过偏振分光器后分成两束光TM和TE光,两光束分别通过两个不同驱动频率的声光调制器,产生的两个衍射光进入合光器合成两束光,一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成参考信号;另一束光经过克莱切曼结构后再经过分光器形成两束光,一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成相位测量信号,测量信号和参考信号经带通滤波、相位解调及数据采集和处理后,获得相位的测量值;另一束光经过检偏器,通过调整检偏器先后得到TE和TM光,两光点的位置经数据采集和处理后,得到古斯‑汉欣位移值;本装置能实现对折射率快速变化介质的高精度测量。
搜索关键词: 一种 同时 测量 相位 位移 方法 装置
【主权项】:
1.一种同时测量相位和古斯‑汉欣位移的方法,其特征在于:激光束通过偏振分光器后分成TM光与TE光,两光束分别通过两个不同驱动频率的声光调制器,产生的两个+1级衍射光进入合光器合成两束光,一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成相位参考信号;另一束光经过克莱切曼结构后再经过分光器形成两束光,其中:一束光在光电探测器光敏面上发生干涉形成相位测量信号,相位测量信号与参考信号经带通滤波、相位解调及数据采集与处理后,获得相位的测量值;另一束光经过检偏器,通过调整检偏器先后得到TE与TM光,两光点的位置经数据采集与处理后,得到古斯‑汉欣位移测量值。
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