[发明专利]一种基于点匹配的基准标志定位方法

摘要

本发明提供一种定位精度高、实时性好及对光照具有较高鲁棒性的基于点匹配的基准标志定位方法，属于图像处理技术领域。包括如下步骤：步骤一：离线获取表征Mark点形状的关键顶点；步骤二：在线获取待定位Mark点的图片，进行角点或中心点检测，得到Mark点的角点或中心点；步骤三：对步骤二检测到的角点，进行聚合，并提取亚像素角点；步骤四：建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数，即：获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息。本发明用于SMT对PCB板的Mark点的定位。

主权项

1.一种基于点匹配的基准标志定位方法，其特征在于，步骤一：离线获取表征Mark点形状的关键顶点；步骤二：在线获取待定位Mark点的图片，进行角点或中心点检测，得到Mark点的角点或中心点；步骤三：对步骤二检测到的角点，进行聚合，并提取亚像素角点；步骤四：建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数，即：获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息；其特征在于，所述步骤四，建立从步骤三中提取的亚像素角点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数为：f(X)＝XRT+T其中，X为步骤三中提取的亚像素角点集，R为D×D维以旋转角度θ为参数的旋转矩阵，满足RTR＝I和|R|＝1，T＝1MtT，t为平移向量；所述步骤四，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数包括：利用配准能量函数E对参数θ和t进行求导：其中，X＝[x₁,…,x_i,…,x_M]^T，x_i表示亚像素角点集中的元素，i＝1,2,…,M，M表示亚像素角点集中元素的数量，1_D为所有元素均为1的D维向量，1_M为所有元素均为1的M维向量，表示点乘；配准能量函数E对变换点集U的导数写为M×D维矩阵形式G＝[G₁,…,G_i,…,G_M]；变换点集U＝[u₁,…,u_i,…,u_M]^T，u_i＝f(x_i)；求得参数θ和t。