[发明专利]一种提高结晶器调宽精度的方法有效

专利信息
申请号: 201610845712.2 申请日: 2016-09-20
公开(公告)号: CN106270436B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 肖海健 申请(专利权)人: 中冶连铸技术工程有限责任公司
主分类号: B22D11/16 分类号: B22D11/16
代理公司: 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 代理人: 朱必武;沈小川
地址: 430073 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及结晶器锥度和宽度的控制领域,特涉及一种提高结晶器调宽精度的方法。本发明利用当前窄面结晶器铜板绝对锥度Bi、上转轴、下转轴的中心点到窄面结晶器铜板的长度La、上转轴、下转轴的中心点到窄面结晶器铜板顶端(底端)的垂直投影长度Lt(Lb)、通过算法得到当前的上转轴、下转轴的中心点到窄面结晶器铜板的水平长度,并补偿到上转轴、下转轴中心点的位置设定值中。本发明消除了热态调宽过程中坯壳与铸坯间的气隙,使坯壳承受的应力即低又均匀,使结晶器两侧同时调宽速度提高到最大200mm/min的基础,缩短结晶器热态宽度调节时间,减少因调宽造成的楔形坯切割浪费,对提高铸坯收得率与铸机作业率有着极为重要的意义。
搜索关键词: 结晶器铜板 上转轴 下转轴 中心点 窄面 结晶器调宽 结晶器 调宽 坯壳 热态 铸坯 结晶器锥度 垂直投影 调宽过程 宽度调节 位置设定 收得率 作业率 底端 气隙 楔形 铸机 锥度 算法 切割
【主权项】:
1.一种提高结晶器调宽精度的方法,其特征在于:包括以下步骤,确认cosθ和sinθ的值的步骤,sinθ=Bi/H;确定铸坯中心线与上转轴中心点的水平长度为XRti和铸坯中心线与下转轴2中心点的水平长度为XRbi的步骤;XRti=La*cosθ+(H‑Lt)*sinθ+WRbi;XRbi=La*cosθ+Lb*sinθ+WRbi;控制结晶器调宽机构运动,使上转轴的实际值XRtiAct等于XRti,下转轴的实际值XRbiAct等于XRbi;其中θ为铸坯中心线与窄面结晶器铜板夹角;窄面结晶器铜板高度为H;前窄面结晶器铜板绝对锥度Bi;窄面结晶器铜板与上转轴和下转轴中心点的垂直长度为La,窄面结晶器铜板上面与上转轴中心点垂直投影长度为Lt;窄面结晶器铜板下面与下转轴中心点垂直投影长度为Lb;窄面结晶器铜板下面与铸坯中心线的水平长度为WRbi。
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