[发明专利]一种低频弦波信号相位差测量方法在审

专利信息
申请号: 201610845924.0 申请日: 2016-09-23
公开(公告)号: CN106353596A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 唐升;王天翔;雷浩丹;邓智峰;杨育婷;王万恒 申请(专利权)人: 西北大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)61223 代理人: 俞晓明
地址: 710127 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种低频弦波信号相位差测量方法,属于相位差测量领域。解决现有相位差测量存在电路结构复杂,测量精度低的问题。包括将同步采集到的两路同频弦波信号进行无符号化处理,获取FPGA中待处理的第一信号和第二信号;依次确定第一信号的自相关测量值,第二信号的自相关测量值和第一信号与第二信号的互相关测量值;根据噪声和信号不相关特性,获取第一信号的自相关理论值,第二信号的自相关理论值和第一信号与第二信号的互相关理论值;根据两路同频弦波信号的幅度,第一信号的自相关理论值,第二信号的自相关理论值和第一信号与第二信号的互相关理论值以及任意角度函数关系式,确定两路同频弦波信号之间的相位差。
搜索关键词: 一种 低频 信号 相位差 测量方法
【主权项】:
一种低频弦波信号相位差测量方法,其特征在于,包括:将同步采集到的两路同频弦波信号进行数字化处理,将数字化处理的所述两路同频弦波信号进行无符号化处理,获取如公式(1)所示的FPGA中待处理的第一信号和第二信号;通过下列公式(2)依次确定所述第一信号的自相关测量值,所述第二信号的自相关测量值和所述第一信号与所述第二信号的互相关测量值;根据噪声和信号不相关特性,获取如公式(3)所示的第一信号的自相关理论值,所述第二信号的自相关理论值和所述第一信号与所述第二信号的互相关理论值;根据所述两路同频弦波信号的幅度,所述第一信号的自相关理论值,所述第二信号的自相关理论值和所述第一信号与所述第二信号的互相关理论值以及任意角度函数关系式,通过公式(4)确定所述两路同频弦波信号之间的相位差;公式(1)如下所示:x(n)=x0(n)+My(n)=y0(n)+M公式(2)如下所示:Rxx_measured(0)=1NΣn=0N-1(x(n))2]]>Ryy_measured(0)=1NΣn=0N-1(y(n))2]]>Rxy_measured(0)=1NΣn=0N-1x(n)·y(n)]]>公式(3)如下所示:Rxx_theoretical(0)=A22+M2]]>Ryy_theoretical(0)=B22+M2]]>公式(4)如下所示:其中,x(n)为FPGA中待处理的第一信号,y(n)为FPGA中待处理的第二信号,x0(n)为采集到第一弦波信号,y0(n)为采集到的第二弦波信号,M为正向偏移量,Rxx_measured(0)为第一信号的自相关测量值,Ryy_measured为第二信号的自相关测量值,Rxy_measured(0)为第一信号与第二信号的互相关测量值,Rxx_theoretical(0)为第一信号的自相关理论值,Ryy_theoretical(0)为第二信号的自相关理论值,Rxy_theoretical(0)为第一信号与第二信号的互相关理论值,N为数据采样点数,A和B分别两路同频弦波信号的幅度,为两路同频弦波信号之间的相位差。
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