[发明专利]一种温度选择器检测方法

摘要

本发明提供一种温度选择器检测方法，首先进行电阻测量，经过桥路转换成电压信号，再经运放电路将电压信号放大，最后经V/F变换电路，将电压信号转换成频率信号进入单片机T0或T1口采集；然后单片机不间断地实时采集1号和2号插针输出的电阻值，自动判断档位。本发明公开一种温度选择器检测方法，采用电阻测量电路及自动判档方法，能准确、合理地进行温度选择器性能检测。并且采用自动判档功能后，避免了用户超过给定检测时间未将温度选择器置于设备提示档位、设备会做出温度控制盒检测不合格的误判。采用LM231组成V/F变换电路具有很高的转换精度及很好的线性关系，可以很好地替代常规采用A/D芯片对电压信号进行变换采集的方法。

主权项

一种温度选择器检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一：电阻测量，温度选择器各个档位的电阻值通过温度选择器插座上的1号和2号插针输出，将温度选择器插座上的1号和2号插针输出的电阻值，通过电缆线接入电阻测量电路中；电阻首先经过桥路转换成电压信号，然后经运放电路将电压信号放大，再经V/F变换电路，将电压信号转换成频率信号进入单片机T0或T1口采集；步骤二：单片机不间断地实时采集1号和2号插针输出的电阻值，自动判断档位，包括以下步骤：S1：温度选择器各个档位按电阻值从小到大依次设为X1档、X2档、X3档…Xn档，n≥1；X1档、X2档、X3档…Xn档对应的电阻值为D1、D2、D3…Dn，每个档位的误差值为±d，d＞0；根据D1、D2、D3…Dn设定n+1个电阻值，分别为O1、O2、O3…On、On+1，O1对应的阻值小于D1‑d，O2、O3…On对应的阻值为介于相邻两档阻值范围中间，并且大于每档给定的误差值，On+1对应的阻值大于Dn+d；S2：将采集到的电阻值R依次与O1、O2、O3…On、On+1进行比较，若小于O1，则提示温度选择器检查不合格，若大于O1，继续与O2比，若小于O2，则判定处于X1档；若大于O2，则继续与O3比，依次判定采集到的电阻值R所处的档位；S3：判定电阻值R所处的档位后，将电阻值R与与所对应档位的电阻值D1、D2、D3…Dn比较，若误差在±d，则判定检查合格，反之为不合格，检查合格则置该档合格标志位为1；S4：当单片机判断到所有档位合格标志位全为1时，则会作出温度选择器检测合格的判断，检测过程中某档未检测到或某档检测不合格则会继续进行检测，直至所有档位检测完成，退出检测。