[发明专利]用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器有效
| 申请号： | 201610847307.4 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106371132B | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 王宝义;况鹏;王英杰;章志明;姜小盼;曹兴忠;魏龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01N23/22 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 姜怡;袁礼君 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开一种用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器。用于正电子湮没寿命谱测量的方法包括：正电子脉冲束团到达所述待测样品的时刻记录为第一时间；通过位置将所述正电子脉冲束团在所述待测样品中湮没产生的多个伽马光子信号区分开，并收集所述多个伽马光子信号，将收集到所述多个伽马光子信号的时刻记录为多个第二时间；对所述多个第二时间进行处理，得到多个第一时间差；以及对所述多个第一时间差进行统计，得到正电子湮没寿命谱。本申请的方法，能够同时测量多个正电子湮没产生的伽马光子的时间分布，提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 正电子 湮没 寿命 测量 方法 系统 以及 闪烁 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种用于正电子湮没寿命谱测量的系统，其特征在于，包括：位置灵敏型闪烁探测器，用于同时收集多个伽马光子并相应产生多个光子信号；以及信号处理系统，用于对所述多个光子信号进行处理，以得到正电子湮没寿命谱；其中，所述位置灵敏型闪烁探测器为半球面的结构，包括：不少于N个探测单元；所述位置灵敏型闪烁探测器球面的结构的半径为R：![]()
其中，S为每个探测单元的表面积，N为正电子脉冲束团发生器每次产生的正电子脉冲束团中的正电子数量。
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