[发明专利]成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置

摘要

提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行峰值矩阵制作等处理。

主权项

一种成像质量分析数据处理方法，对成像质量分析数据进行处理，该成像质量分析数据是将通过对试样上的多个测量点分别执行质量分析而收集到的质谱数据与上述测量点的空间位置信息相关联而得到的，该成像质量分析数据处理方法的特征在于，包括以下步骤：空间校正处理步骤，将多个成像质量分析数据中的一个成像质量分析数据的空间上的测量点间隔作为基准，通过使用位于使其它成像质量分析数据的测量点间隔与该基准一致时的虚拟的测量点位置周围的多个测量点的质谱数据进行内插或者外插，来求出各个虚拟的测量点位置处的质谱数据；以及整合步骤，进行整合，使得能够将通过执行上述空间校正处理步骤从而使测量点间隔一致的多个成像质量分析数据作为一个成像质量分析数据进行处理。