[发明专利]一种基于断裂自相似理论的低级序断层发育规律预测方法有效
申请号: | 201610849701.1 | 申请日: | 2016-09-24 |
公开(公告)号: | CN106291715B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 刘敬寿;丁文龙;杨海盟;王兴华;李昂 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | G01V1/50 | 分类号: | G01V1/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及油气田勘探开发、矿产评价预测领域,尤其是一种基于断裂自相似理论的低级序断层发育规律预测方法。本发明专利在地震解释的基础上,设定断裂自相似性发育规律量化参数,并进行断裂自相似性参数检验,结合油藏开发断裂图,以高级序断层为约束,建立低级序断层发育规律预测模型,进而提出低级序断层二次解释方案,最后通过应力场模拟对解释方案对比验证。本发明专利解决了传统地震解释难以准确识别低级序断层的难题,进而提高了油田二次解释断层的精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 断裂 相似 理论 低级 断层 发育 规律 预测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于断裂自相似理论的低级序断层发育规律预测方法,预测的步骤如下:1)利用地震解释相关软件,通过精细地震解释获得工区的断层平面展布图,得到研究区的断层平面展布、地震剖面图;2)设定断裂自相似性发育规律量化参数;断裂信息维D表示为:D(F)=-limϵ→0I(ϵ)ln(ϵ)---(1)]]>公式(1)中,Pi是每个信息点落入第i个小栅格的概率;ε为栅格的边长;为了更为具体的表示断裂的这种自相似性,定义了两个参数:信息维差:ΔD=D2‑D1 (2)相似性差:ΔR2=R22‑R21 (3)当增加某条低级序断层时,公式(2)、公式(3)中,D1、D2分别为低级序断层增加前后,对应的断裂信息维数值;R21、R22分别为低级序断层增加前后,断裂的相似程度评价量化结果——每个单元内对变量拟合后得到D值,对应的拟合系数;ΔD、ΔR2为增加某条小断层后,某一单元内,断层的信息维、相似程度变化后与变化前的差;当删除某条低级序断层时,公式(2)、公式(3)中,D2、D1分别为低级序断层删除前后,对应的断裂信息维数值;R22、R21分别为低级序断层删除前后,断裂的相似程度评价量化结果——每个单元内对变量拟合后得到D值,对应的拟合系数;ΔD、ΔR2为删除某条小断层后,某一单元内,断层的信息维、相似程度变化前与变化后的差;3)断裂自相似性参数检验——以工区已落实的断裂系统为例,共计n条断裂,选取其中的m条低级序断层做统计分析,其余n‑m条为控制断裂;设计两个方案:方案A:在n‑m条高级序断层的控制下,逐条增加低级序断层的条数,判断ΔR2、ΔD的变化;方案B:将n条断层作为整体,逐条删除每条断层,判断每条断层的ΔR2、ΔD的变化;4)在地震解释的基础上,通过油藏的实际开发过程中油水的变化以及动态资料分析,获取油藏的断裂图;5)建立低级序断层发育规律预测模型,在获取油藏的断裂展布图的基础上,建立低级序断层发育规律预测模型;6)模拟确定低级序断层的二次解释方案,采用逐条判别的方法,分析每条断层删除后的两个参数——信息维差ΔD、相似性差ΔR2的变化;判断删除某条小断层后,某一单元内,断层的信息维、相似性变化之差;筛选其中断裂信息维差ΔD、相似性差ΔR2减小的断裂进行修改、调试,使断裂信息维差ΔD、相似性差ΔR2总体朝着增大的方向发展;7)断层调整后的方案与应力场模拟结果的对比验证——在确定断层形成的古构造应力场的基础上,从地质力学的角度分析低级序断层的发育规律,并与断裂自相似性确定的断层解释方案对比、验证。
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