[发明专利]一种电子产品的下线检测方法及系统在审
申请号: | 201610849814.1 | 申请日: | 2016-09-26 |
公开(公告)号: | CN106407066A | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 谷威昭 | 申请(专利权)人: | 北京经纬恒润科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/263 | 分类号: | G06F11/263 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100101 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开的一种电子产品的下线测试方法及系统,基于统一诊断服务UDS的诊断服务,该方法包括获取电子产品的端口外部输入的预期状态信息,预期状态信息为ON状态或OFF状态;根据UDS诊断服务指令查询端口的实际状态信息,实际状态信息可以为ON状态或OFF状态;通过判断预期状态信息和实际状态信息是否一致来确定端口电路是否正常。本发明基于UDS的诊断功能,且诊断功能均为标准配置要求,通过UDS诊断完成产品硬件电路的诊断减低了额外开发下线测试协议的工作量,且需要通过一定级别的安全访问才能进行检测控制权,在诊断掉线后,自动恢复到产品工正常作模式,因此避免了产品陷于EOL测试模式而无法正常工作的情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子产品 下线 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种电子产品的下线测试方法,其特征在于,基于统一诊断服务UDS的诊断服务,该方法包括:获取所述电子产品的端口外部输入的预期状态信息,所述预期状态信息为ON状态或OFF状态;根据所述UDS诊断服务指令查询所述端口的实际状态信息,所述实际状态信息为ON状态或OFF状态;判断所述预期状态信息和所述实际状态信息是否一致;若是,则所述端口对应的电路正常,测试通过,且设置测试成功信息;若否,则所述端口对应的电路异常,测试不通过,且设置测试故障信息。
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